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史密斯英特康發(fā)布Volta 180系列探針頭提升晶圓測試方案性能

史密斯英特康作為全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試解決方案供應(yīng)商,今天發(fā)布全新?Volta180 測試頭擴(kuò)大Volta產(chǎn)品線,支持市場對更小間距的晶圓尺寸,晶圓級芯片封裝和已知合格芯片的測試需求。

倫敦2020年11月30日 /美通社/ -- 史密斯英特康作為全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試解決方案供應(yīng)商,今天發(fā)布全新 Volta180 測試頭擴(kuò)大Volta產(chǎn)品線,支持市場對更小間距的晶圓尺寸,晶圓級芯片封裝和已知合格芯片(Known Good Die)的測試需求。

Volta 180 探針頭
Volta 180 探針頭

信息時代的迅猛發(fā)展催生了對消費(fèi)和商業(yè)電子產(chǎn)品巨大的需求。如何在有限的應(yīng)用空間增加更多的功能并兼具成本效益,這一需求促進(jìn)了晶圓級封裝和已知良好芯片測試的巨大增長。 Volta 產(chǎn)品系列是史密斯英特康增強(qiáng)的解決方案,可以對最小引腳間距180um 的晶圓尺寸封裝及晶圓級封裝進(jìn)行快速而可靠的測試,以確保它們符合規(guī)格并滿足終端產(chǎn)品應(yīng)用性能。

全新的Volta180系列引腳最小間距(PITCH)降至180um,是增強(qiáng)的晶圓級別測試解決方案,具備如下性能優(yōu)勢:

Volta 180

  • Volta 180可以滿足在750,000次壽命測試下仍保持低且穩(wěn)定的電阻,從而提供高精度的測量。
  • 卓越的針頭共面性可滿足64 個工位,5000根探針同時進(jìn)行測試,以提高生產(chǎn)效率
  • 模組化的針頭設(shè)計能確保維護(hù)時可進(jìn)行快速更換,停機(jī)時間幾乎為零。
  • 全探針陣列設(shè)計允許現(xiàn)場根據(jù)不同產(chǎn)品配置探針位置,使得單個Volta 180探針頭可測試多個產(chǎn)品。

史密斯英特康總裁 Paul Harris說,“技術(shù)性的挑戰(zhàn)和封裝成本的上升推動了晶圓級封裝和已知合格芯片(KGD)測試需求的增長。史密斯英特康的 Volta180 系列兼具高性能和高性價比滿足市場需求,會助力我們的合作伙伴大大提升測試效率和測試性能。”

更多詳情,請訪問史密斯英特康 Volta 系列探針頭產(chǎn)品頁面
https://www.smithsinterconnect.cn/zh-hans/products/volta-xi-lie-tan-zhen-tou

 
消息來源:史密斯英特康(Smiths Interconnect)
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